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UTECHZONE |
由田 |
敝司代理UTECHZONE由田的晶圆检测设备。用于Wafer的缺陷检测。
产品特性：
1、高解析度CCD结合多角度灯光模组，有效检出缺陷
2、可检 Bare Wafer 、Pattern Wafer 、 Glass Wafer 、 Framed wafer
3、用于RDL宽度/高度、Bump宽度/高度、UBM深度…等检测项目
| 深圳东荣兴业电子有限公司 | |||
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| 联系人 | 纪纤尘 |
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| 手机 | | 邮箱 | lunaji@dongrong-china.com |
| 传真 | 无 | 地址 | 无 |
| 主营产品 | 陶瓷封装管壳,半导体材料 | 网址 | http://lunaji.b2b.huangye88.com/ |
